150 N

Рис. 7.2. Зависимости коэффициента подавления помех от числа стробимпульсов при разных значениях постоянной разряда емкости смесителя 6„

а 25 и

Рис. 7.3. Зависимость напряжения заряда запоминающей емкости от числа стробимпульсов при разных значениях времени ее разряда (а) и амплитудах стробимпульса (б)

Вход

С1300

Синхроим пульс

270 С4

0,1/1

СЗ 300

VTI \f7/

i J-

JUU I

0,01

XR12 810

B13 Rll 570 SI 080,01

\ЩХ)2ТЗ!23А

Yioiioo

HhHH

0,01

R9 560

56 VT3 2T3101A

CI 100 л 180 120

в 6 ВД52Ы 300

50)2001

R18 3,ЗП

R19 300 CI1

R8 \0,01

VB3

АД51В6

R20106

rzT

R7 3d

R2110

R23 470

VT6 2Т3101А

*15й

-г-С14 Л-0,01

С13 6,8пФ

R27 200

R27 470

6574}

вых/>д

R2S 18

0,01 \ -15 В

Рис. 7.

Принципиальная электрическая схема гибридного стробоскопического преобразователя

стробимпульсов, смеситель, работающий в режиме пикового детектирования, и усилитель преобразованного сигнала. Формирователь стробимпульсов реализован на транзисторах VT\ VT5 по схеме

усилителя-ограничителя с дифференцирующими /?С-цепочками между каскадами. Для формирования стробимпульса применены диод VD2 и короткозамкнутая коаксиальная линия (кабель). В смесителе используется диод VD3. В качестве усилителя преобразованного сигнала применяется ОУ D1.

Учитывая, что требования, предъявляемые к измерителям динамических параметров АЦП (как по диапазону исследуемых сигналов, так и по разрешающей способности амплитуды), менее жесткие (в том числе для апертурного времени и апертурной неопределенности), чем требования к измерителям времени установления ЦАП, в качестве последних могут использоваться измерители, описанные в [79-82].

7.2. КОНТАКТИРУЮЩИЕ ГОЛОВКИ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ИС

Для подключения измеряемой ИС к измерителю используется контактирующая головка (КГ). Чтобы исключить выход из строя измеряемой ИС из-за механического повреждения выводов, обеспечить удобное и быстрое ее подключение к измерителю, как правило, используются головки, называемые контакторами. Контактор - это КГ вместе с элементами измерителя, размещенными рядом с головкой и предназначенными для создания необходимого режима измерения или испытания.

Основными параметрами КГ являются переходное сопротивление и допустимое число сочленений. Однако при измерении динамических параметров сверхбыстродействующих ИС (а особенно ЦАП и АЦП), работающих в нано- и субнаносекундных диапазонах времен, очень важными являются паразитные конструктивные параметры: межконтактная емкость, емкость на корпус, индуктивность выводов. Конструкции КГ определяются типом корпуса измеряемой ИС. Их можно разделить на две основные группы: для корпусов с планарными выводами и для корпусов с диповскими выводами.

7 2 1 КОНТАКТИРУЮЩИЕ ГОЛОВКИ ДЛЯ КОРПУСОВ С ПЛАНАРНЫМИ ВЫВОДАМИ

На рис. 7.5 схематически показана конструкция КГ полоско-вого типа. Контактирующей частью головки является печатная плата с топологией проводников, идентичной расположению выводов корпуса. Проводники покрывают золотом или другим обеспечивающим хорошую проводимость и стойкость к оксидации металлом. При измерении динамических параметров быстродействующих ИС требуется согласование передающих трактов измерителя и КГ.

Вход

Выход

Рис. 7.0. Контактирующая головка полоскового типа:

а - общий вид (/ - плата. 2- проводник. 3 - лаправтяющая, 4 - контакт. 5- прижимная подушка. 5-прижимной рычаг, / - фиксирующий рычаг), б - плоский ленточный контакт, в - плоский волнистый контакт, г - плоский пружинистый контакт, д- контакт типа полосковой симметричной линии

Для ЭТОГО форма проводников платы представляет собой несимметричную полосковую линию. Учитывая, что ширина проводников платы КГ равна ширине выводов корпусов ИС или несколько уже ее, необ.чодимое волновое сопротивление полосковой линии обеспечивается путем подбора изоляционного материала (с определенной диэлектрической проницаемостью) и геометрических размеров проводящих и изолирующих частей головки.

Контактирующая головка полоскового типа имеет простую конструкцию и обеспечивает наибольшую широкополосность, так как паразитные емкости и индуктивности контактирующих проводников очень малы. Основным недостатком головки такого типа является плохое качество контактирования, обусловленное остаточной деформацией прижи.мных колодок, а также плоской формой контактирующего проводника платы. Как правило, в качестве материала для прижимных колодок применяется силиконная резина, имеющая малое количество серы.

Для улучшения надежности контактирования используются контактирующие лепестки либо волнистого, либо пружинистого типа. В первом случае надежность контактирования обеспечивается образованием ряда точек контактирования с большой силой прижатия (на верхушках лепестка), во втором - индивидуальным прижатием каждого лепестка КГ к выводу ИС. Недостатками КГ с лепестком пружинистого типа являются увеличенные паразитные емкость и индуктивность.

В ряде случаев микросхемы с одинаковыми электрическими параметрами имеют разное конструктивное использование, т. е. помещены в корпуса различной конструкции. Для обеспечения универсальности и ремонтоспособности аппаратуры, а также оперативного перехода от измерения одного типа ИС к другому конструкция КГ должна обеспечить оперативную их замену.