Главная -> Книги

(0) (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) (8) (9) (10) (11) (12) (13) (14) (15) (16) (17) (18) (19) (20) (21) (22) (23) (24) (25) (26) (27) (28) (29) (30) (31) (32) (33) (34) (35) (36) (37) (38) (39) (40) (41) (42) (43) (44) (45) (46) (47) (48) (49) (50) (51) (52) (53) (54) (55) (56) (57) (58) ( 59 ) (60) (61) (62) (63) (64) (65) (66) (67) (68) (69) (70) (71) (72) (73) (59)

осуществляется переменными конденсаторами и дросселями «ФРОЦ/ ТЫ».

Основные параметры формирователя

Сопротивление нагрузки, Ом.......50

Полярность...........Положительная,

отрицательная

Длительность, не..........0...50

Частота следования.........Определяется ведущим генератором

Длительность фронтов, ис........1...5

Амплитуда, В...........0,5...2

Неравномерность- плоской части, выбросы, форма фронта и среза импульсов определяются положением регуляторов фронтов и срезов.

Полярность импульсов (положительная или отрицательная) переключается с помощью герконных реле, коммутирующих обмотки широкополосного транформатора.

В тех случаях, когда необходимо иметь смещение импульсов по постоянному току (например, для измерения апертурной неопределенности или других параметров), к выходу генератора (после С15) можно подключить индуктивность, соединенную с источником напряжения смещения. Величина индуктивности выбирается такой, чтобы ее реактивное сопротивление для импульса было достаточно большое.

Иногда для проверки функционирования АЦП на высоких частотах или измерения динамических параметров используется синусоидальный тестовый сигнал, причем амплитуда его должна поддерживаться с высокой точностью. При измерении разных экземпляров или партий ИС (особенно сверхбыстродействующих параллельных АЦП) из-за разброса входных емкостей амплитуда входного тестового сигнала значительно изменяется, что приводит к дополнительным погрешностям измерения. Для исключения этого явления целесообразно использовать систему регулирования (стабилизации) входного сигнала.

На рис. 7.12 приведена принципиальная электрическая схема широкополосного устройства, позволяющего с высокой точностью автоматически поддерживать амплитуду сигнала у входа измеряемой ИС.

Устройство состоит из СВЧ аттенюатора, детектора и схемы управления. Коэффициент передачи электрически управляемого аттенюатора зависит от выходного напряжения схемы управления. Датчиком служит двухдиодный детектор, расположенный в точке подключения проверяемого объекта (ИС). Амплитуда стабилизированного синусоидального сигнала определяется опорным напряже-



На ikoff ИС -

\Детентор

woo i

R5 5,1M

VVT\R2 5,1\

RTWH

тозв

VT2 HTS036

0,01

Z7 ОмнГн

m 14-

2,г /уй

/M57Z4

М577А

R11 120

ЗмнГн

СВ 0,01

R13 15R

V.V118 КД521

НД521\

Н12 ЮН

i i

Схема

Аттенюатор \ управле1<ия

Рис. 7.12. Принципиальная электрическая схема устройства автоматической стабилизации амплитуды синусоидального сигнала

нием. Точность поддержания амплитуды сигнала не хуже 1% при частоте, равной десяткам - сотням мегагерц.

7.4. КОРПУСА ДЛЯ ИС И ИХ ПАРАЗИТНЫЕ КОНСТРУКТИВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ

Значительное влияние на динамические параметры быстродействующих ИС оказывают паразитные емкости и индуктивности их корпусов. Для уменьшения этого влияния необходимо в процессе проектирования определенным образом подобрать тип корпуса и провести проектирование топологии и монтаж ИС.

В табл. 7.3 приведены усредненные значения паразитных емкостей и индуктивности применяемых типов корпусов (обозначения емкостей согласно рис. 7.13). Как видно из таблицы, емкость сильно зависит от места расположения выводов ИС, что необходимо учесть при проектировании сверхбыстродействующих ИС: размещении контактных площадок, выборе типа корпуса и определении функционального назначения его выводов.

Влияние паразитных емкостей корпусов ИС на динамические параметры сказывается по-разному.

Во-первых, широкополосные тестимпульсы, подаваемые на входы ИС, или выходные импульсы, снимаемые с логических выходов АЦП, через паразитные емкости проходят на чувствительные цепи измеряемой ИС. Длительность фронтов импульсов составляет едини-



Таблица 7.3. Паразитные конструктивные параметры наиболее распространенных корпусов

Тип корпуса

Усредненные значения паразитных параметров

с: у % с

Межвыводна в разных рядах

я емкость, в одном

пФ ряду

Индуктивность, нГн

mln 2

max 2

mln 1

тах 1

201.16-8

0,27

0,49

0,71

1,23

16,4

24,1

201.16-13

0,26

0,48

0.65

1,14

15,3

20,2

405.24-2

0,21

0,64

0,86

1,37

17,6

23,3

2123.40-6(3)

0,75

1,18

1,04

1,87

17,3

25,7

2207.48-1

0,26

0,72

0,83

2,42

18,6

26,7

2136.64-1

2,76

1 ,12

5,87

16,9

47,3

Примечание. Сопротивление выводов составляет 0,4...0,48 Ом,

цы наносекунд, а амплитуда - единицы вольт. Наиболее опасными связями для ЦАП являются связи между логическими входами и выходом, а для АЦП - между логическими выходами или тактовыми входами и аналоговым входом. Амплитуда наводимого паразитного напряжения во много раз превышает величину ЕМР, что оказывает влияние на работу измеряемой ИС и результаты ее измерения. Это опасно при измерении времени установления сверхбыстродействующих ЦАП, когда цифровые входы соединяются между собой и суммарная паразитная емкость вход - выход составляет единицы пикофарад, а также при измерении АЦП, когда фронты выходных импульсов через паразитные емкости попадают на аналоговый вход АЦП. Для уменьшения этого влияния используются два вида заземляющих шин: аналоговая и цифровая.

Во-вторых, через паразитные емкости корпусов и КГ образуются положительные обратные связи, приводящие к самовозбуждению всей системы измерения. Форма и частота генерации носят разнообразный характер, причем изменяются в процессе измерения

"mazZ

тах 1 mln 1

Рис. 7.13. Обозначение паразитных емкостей корпусов ИС



(0) (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) (8) (9) (10) (11) (12) (13) (14) (15) (16) (17) (18) (19) (20) (21) (22) (23) (24) (25) (26) (27) (28) (29) (30) (31) (32) (33) (34) (35) (36) (37) (38) (39) (40) (41) (42) (43) (44) (45) (46) (47) (48) (49) (50) (51) (52) (53) (54) (55) (56) (57) (58) ( 59 ) (60) (61) (62) (63) (64) (65) (66) (67) (68) (69) (70) (71) (72) (73)