Главная -> Книги

(0) (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) (8) (9) (10) (11) (12) (13) (14) (15) (16) (17) (18) (19) (20) (21) (22) (23) (24) (25) (26) (27) (28) (29) (30) (31) (32) (33) (34) (35) (36) (37) (38) (39) (40) (41) (42) (43) (44) (45) (46) (47) (48) (49) (50) (51) (52) (53) ( 54 ) (55) (56) (57) (58) (59) (60) (61) (62) (63) (64) (65) (66) (67) (68) (69) (70) (71) (72) (73) (74) (75) (76) (77) (78) (79) (80) (81) (82) (83) (84) (85) (86) (87) (88) (89) (90) (91) (92) (93) (94) (95) (96) (97) (98) (99) (100) (101) (102) (103) (104) (105) (106) (107) (108) (109) (110) (111) (112) (113) (114) (115) (116) (117) (118) (119) (120) (121) (122) (123) (124) (125) (126) (127) (128) (129) (130) (131) (132) (133) (134) (135) (136) (137) (138) (139) (140) (141) (142) (143) (54)

катодом будет приводить к уменьшению напряжения на этом участке за счет его шунтирующего действия, так как входное сопротивление прибора меньше Re- Таким способом подключения можно пользоваться только в том случае, когда в цепи сетки нет высокоомных элементов (рис. 7-6,6, в). При автоматическом катодном смещении вольтметр будет оказывать наименьшее влия-

0-lh



Рис. 7-6. Схемы проверки сеточной цепи.

ние на измеряемую величину при подключении его параллельно Rk, так как Rx прибора больше Rk (рис. 7-6,г). В ряде генераторных каскадов напряжение смещения получается за счет протекания сеточного тока по сопротивлению Rc. Для измерения этого напряжения необходимо использовать вольтметр, обладающий большим входным сопротивлением, так как при подключении параллельно R он шунтирует участок сетка-



катод лампы и колебательный контур предыдущего каскада, что может приводить к уменьшению напряжения смещения, ухудшению добротности контура, а следовательно, к уменьшению переменного напряжения на выходе схемы или к срыву колебаний генератора. Наличие в схеме с дросселем фильтра (рис. 7-6,д) напряжения смещения позволяет судить о целости обмотки дросселя (отсутствие обрыва).

При измерениях в диапазонах УКВ необходимо учитывать шунтирующее действие входной емкости прибора.

Зависимость напряжений на электродах ламп от тока эмиссии требует в ряде случаев измерений величин постоянных токов и переменных напряжений. Так, например, уменьшение тока эмиссии приводит к увеличению напряжения на экранирующей сетке и уменьшению напряжения катодного смещения. Однако измерение величин токов сопряжено с рядом трудностей (необходимость разрыва цепи для включения прибора, изменяющего сопротивление цепи). Поэтому целесообразнее измерение токов заменять более удобным измерением сопротивлений. Соответствие нормам замеренных величин сопротивлений и напряжений позволяет утверждать, что и ток должен быть равен норме согласно закону Ома. Таким образом, снятие диаграмм (карт) сопротивлений и напряжений является достаточно надежным способом выявления неисправностей в радиоаппаратуре. Одновременная проверка напряжений и сопротивлений в цепях позволяет выявить и неисправные лампы. Иногда при наличии в каскадах достаточно большого переменного напряжения производится его проверка на электродах ламп и на отдельных участках схемы. При этом выявляется исправность деталей, не влияющих на режим по постоянному напряжению.

Контроль величин переменных токов производится чаще всего в антенных цепях и в цепях колебательных контуров мощных генераторов.

Характерной особенностью проверки схем с полупроводниковыми приборами является то, что они легко выходят из строя при различных электрических перегрузках. Поэтому проверку исправности радиоаппаратов с полупроводниковыми приборами под напряжением путем замены одного полупроводникового прибора дру-172



гим, заведомо годным, следует производить тоЛько noufle предварительной проверки качества монтажа схемы и снятия карт (диаграмм) сопротивлений. Простейшая проверка исправности полупроводниковых приборов может производиться при помощи омметра (рис. 7-7). Она основана на различии сопротивлений переходов прямому и обратному токам. Измеренные омметром сопротивления переходов диода характеризуют его параметры по постоянному току. Если эти параметры измерить по

>1-

а) б)

Рис. 7-7. Схемы проьерки полупроводниковых диодов по постоянному току.

а - обратного сопротивления, б - прямого сопротивления

переменному току, то из-за нелинейности характеристики диода они будут другими. Большое отличие в сопротивлениях будет при измерении прямого (входного) сопротивления, которое может быть значительно меньше, чем сопротивление по постоянному току. Различие в величинах обратных сопротивлений, измеренных по переменному и постоянному токам, будет значительно меньшим.

В отличие от диодов транзисторы имеют два перехода, эмиттерный и коллекторный, которые можно проверить, как два диода по прямому и обратному токам (рис. 7-8), причем обратные сопротивления (рис. 7-8,в и г) должны быть значительно больше прямых (рис. 7-8,а и б). Прямое сопротивление между коллектором и базой (рис. 7-8,6) может быть несколько меньше прямого сопротивления между эмиттером и базой (рис. 7-8,а); сопротивление между эмиттером и коллектором (рис. 7-8,д) значительно больше прямых сопротивлений, но меньше обратных. При подключении омметра необходимо соблюдать правильную полярность напряжения на электродах транзистора, а также исключать возможность воздействия на проверяемый полупроводниковый прибор тока омметра, превышающего до-



(0) (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) (8) (9) (10) (11) (12) (13) (14) (15) (16) (17) (18) (19) (20) (21) (22) (23) (24) (25) (26) (27) (28) (29) (30) (31) (32) (33) (34) (35) (36) (37) (38) (39) (40) (41) (42) (43) (44) (45) (46) (47) (48) (49) (50) (51) (52) (53) ( 54 ) (55) (56) (57) (58) (59) (60) (61) (62) (63) (64) (65) (66) (67) (68) (69) (70) (71) (72) (73) (74) (75) (76) (77) (78) (79) (80) (81) (82) (83) (84) (85) (86) (87) (88) (89) (90) (91) (92) (93) (94) (95) (96) (97) (98) (99) (100) (101) (102) (103) (104) (105) (106) (107) (108) (109) (110) (111) (112) (113) (114) (115) (116) (117) (118) (119) (120) (121) (122) (123) (124) (125) (126) (127) (128) (129) (130) (131) (132) (133) (134) (135) (136) (137) (138) (139) (140) (141) (142) (143)